고장 모델 : Wunch & Bell (1968)
고장 모델 : Wunch & Bell (1968)
- Wunch와 Bell이 펄스 전압에 의한 고장을 파괴시의 국부 온도 상승으로
설명할 수 있는 모델을 발견했다.
- 고장 메커니즘에 대한 모델식은 다음과 같다.
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•P/A : Power density |
•Tm : 용융온도 |
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•d : 칩 밀도 |
•T : 기준온도 |
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•Cp : specific chip |
•t : ESD펄스폭 |
|
•k : 열전도도 |
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