전자부품 방사(Radiation )에 의한 고장

단일성 효과 (SEE; Single Event Effect)

- SEE는 방사 미립자 1개에 의하여 발생한다.

- 높은 고도에서는 대기 중의 중선자가 SEE의 주된 원인으로 밝혀졌다. 

* 출처: Normand, Eugene, “Single Events Effects in Avionics,” IEEE Trans. On Nuclear Science, Vol. 43, No. 2, April, 1996.

- SEE 고장 유형

    • 소프트 에러 (Soft error) : 1개의 에너지 입자에 의하여 발생되는 단일 트랜지스터 또는 출력신호의 일시적인 이상

    • 래치업 (Latch-up) : 소자에 고전류 상태를 유도하는 싱글 이벤트(Single Event) 에 의하여 소자 기능의 상당 부분이 손실되는 상태. 이러한 경우의 손상은 일시적인 경우도 있고 영구적인 경우도 있지만 정상 상태로 복원하기 위해서는 전원을 차단해야만 한다. 

    • 번아웃(Burnout) : 고전류 활성화로 인한 소자의 파괴

    • 절연/게이트 파괴(Dielectric/gate rupture) : 산화막게이트를 통한 통전 경로 형성