전자부품 래치업 (Latch-up) 판정기준

Posted by 도깨비강종헌
2014. 7. 15. 10:24 전자부품상식

래치업 (Latch-up)

 래치업 (Latch-up) 판정기준

 

Class I or II 에 따르는 시험 기준 (온도, Trigger polarity, V supply,  Trigger current  등 )에 준한 회로에서 test 시 이상 없을 것

 

Class

st type

Trigger Test condition

(at Max.V supply)

 판정기준

Class I

(측정온도:실온)

Positive
I-test

(+) (Inom+100mA) 또는
1.5 x Inom 중에서 큰 값

1.4 x Inom *.1
또는

Inom+10mA
중에서 큰 값

Negative
I-test

(-) 100mA 또는 –5 x Inom
중에서 큰 값

Class II (측정온도 : 최대사용온도. 그외 조건은 Class I 과 동일)

 

*1. Inom: (Nominal I supply)  : 정격전압 인가된 IC 각각의 V supply 단자에서 측정된 DC supply current

 

 

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Positive input/output i-test 래치업 (Latch-up) test

Posted by 도깨비강종헌
2014. 7. 14. 10:32 전자부품상식

Positive input/output i-test 래치업 (Latch-up) test

 

 

 

1. DUT 전원인가시에는 추가적인Vsupplies를 포함하여야 함

2. DUT는 모든 I/O 핀이 유효한 상태에 있도록 전처리가 되어야 함. 출력 상태의 I/O핀은 Open circuit일것.
 3. HIGH로직과 LOW로직은 소자 규격에 따를 것. 로직 레벨이 디지털 방식이 아닌 소자를 따를 경우, 소자 규격에 따라 핀당 공급할 수 있는 최대 HIGH 및 최소 LOW 전압에 따름. 단 이 경우가 소자의 셋업상태를 파괴하지 않아야 함.

4. 래치업 테스트 중일 경우를 제외하고 출력 핀은 Open상태일 것.

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래치업 (Latch-up)

Posted by 도깨비강종헌
2014. 7. 14. 10:23 전자부품상식

래치업 (Latch-up)

 

 

 래치업 (Latch-up) 원인

 

전원 스위칭(Power supply switching )


방사 노이즈 (Radiation Noise)


공급 전원 변동(Power supply line variation)


낙뢰 서어지(Lightning surge)

 

 

 래치업 (Latch-up) 영향

 

연결부 단락(Junction short circuit)


금속층 단선(Metallization open circuit)


와이어 본드 단선 (Wire bond open)

 

 

[ 래치업 (Latch-up) 시험방법 ]

 

 

 래치업 (Latch-up) 대책


산화막 절연 (Oxide isolation)


모재의 충분한 첨가 (Heavily doped substrate material)


충분한 확산 처리 (Heavily doped diffusion)

 

 

 래치업 (Latch-up) 시험방법

 

전류 주입법 ( I-test) : IC측정핀에 +,- 전류펄스를 인가하여 latch-up을 평가하는 방법
 
  - Positive input/output I-test latch-up test


  - Negative input/output I-test latch-up test

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