Positive input/output i-test 래치업 (Latch-up) test

1. DUT 전원인가시에는 추가적인Vsupplies를 포함하여야 함

2. DUT는 모든 I/O 핀이 유효한 상태에 있도록 전처리가 되어야 함. 출력 상태의 I/O핀은 Open circuit일것.
 3. HIGH로직과 LOW로직은 소자 규격에 따를 것. 로직 레벨이 디지털 방식이 아닌 소자를 따를 경우, 소자 규격에 따라 핀당 공급할 수 있는 최대 HIGH 및 최소 LOW 전압에 따름. 단 이 경우가 소자의 셋업상태를 파괴하지 않아야 함.

4. 래치업 테스트 중일 경우를 제외하고 출력 핀은 Open상태일 것.