전자부품 래치업 (Latch-up) 판정기준
래치업 (Latch-up)
래치업 (Latch-up) 판정기준 |
Class I or II 에 따르는 시험 기준 (온도, Trigger polarity, V supply, Trigger current 등 )에 준한 회로에서 test 시 이상 없을 것
Class |
st type |
Trigger Test condition (at Max.V supply) |
판정기준 |
Class I (측정온도:실온) |
Positive |
(+) (Inom+100mA) 또는 |
1.4 x Inom *.1 Inom+10mA |
Negative |
(-) 100mA 또는 –5 x Inom | ||
Class II (측정온도 : 최대사용온도. 그외 조건은 Class I 과 동일) |
*1. Inom: (Nominal I supply) : 정격전압 인가된 IC 각각의 V supply 단자에서 측정된 DC supply current
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