정전기 방전 (ESD;Electrostatic Discharge) - (1)

Posted by 도깨비강종헌
2014. 7. 11. 12:43 전자부품상식

정전기 방전 (ESD;Electrostatic Discharge)

 

 

 정전기 방전 (ESD;Electrostatic Discharge) 원인

 

-. 인체모델 Human Body Model (HBM)

-. 장비모델 Machine Model (MM)

-. 대전소자모델 Charged Device Model (CDM)

 

 

 정전기 방전 (ESD;Electrostatic Discharge) 영향

 

-. 산화막 게이트 파괴 (100V 이상일 경우 )


-. 드레인 연결부(drain junction edge)의 열파괴 (Thermal failure) ; 드레인-소스 회로 단락

 

 

[드레인-소스 회로 단락]

 

 정전기 방전 (ESD;Electrostatic Discharge) 대책

 

각 IC핀별로 전류 션트(Shunt) 및 전압 크램프 (Clamp)가 가능하도록  칩 자체 ESD 보호회로 추가

 

 

 정전기 방전 (ESD;Electrostatic Discharge) 모델

 

 

반도체(LSI)의 파괴 에너지 밀도 (Destructive energy density) 산출 모델 : Speakman(1974) model


파괴 모드 분류 : Wunch-Bell(1968) plot

 

 

 

[HBM, MM 방식에 의한 ESD 시험]

 

 

 

반도체의 주요 불량/고장 관련 규격 및 관리 기준

Posted by 도깨비강종헌
2014. 7. 10. 10:50 전자부품상식

반도체의 주요 불량/고장 관련 규격 및 관리 기준

 

 

 측정항목

관련 규격

관리기준

대상부품

정전기 내력

(ESD; Electrostatic discharge)

EIA/JESD 22-A115-A

ESD Sensitivity Testing Machine Model

600V이상

[MM 기준]

I.IC

II.FET,TR
III.LED,TRIAC,DIODE

래치업 (Latch-up)

EIA/JESD 78   IC Latch-Up Test

100mA
이상

I.MICOM

II.E2PROM

습도 및 리플로우
민감도 수준

(Moisture/Reflow
 Sensitivity
Level)

IPC/JEDEC J-STD-020B

Moisture/Reflow Sensitivity Classification for Nonhermetic solid state surface mount  devices.

Level II
이상

(1year)

I.SMD type IC

(Surface mounted device; 표면 실장형)

박리 또는 보이드
(Delamination or
 Void)

I. JEDEC Method A-112

II. IPC-SM-786A
§ MIL-STD-883 Method 2030

기준에
준함

I.IC

II.대전력 FET, TR
III.LED,TRIAC,DIODE

 

* JEDEC[Joint Electron Device Engineering Council] 미국 전자공업협회(EIA) 산하 국제반도체표준협의기구
   IPC [Institute for Interconnecting and Packaging Electronic Circuits ]
   MIL-STD [ Military Standards(United States) ]

 

 

램리서치 신제품, 3D NAND 메모리 기기 생산에 핵심 역할 담당

Posted by 도깨비강종헌
2014. 7. 9. 14:03 전자부품정보

램리서치 신제품, 3D NAND 메모리 기기 생산에 핵심 역할 담당

 

 

반도체 웨이퍼 가공장비 공급사인 램리서치(Lam Research Corp)가 3D NAND 가공 박막 증착과 플라스마 식각 제품을 새로 출시했다고 발표했다.

메모리 고객사들이 해당 기기들의 생산을 늘림에 따라, 제조 비용 절감을 위한 공정 제어의 증강이 요구된다. 당사의 새로운 시스템은 3D NAND 메모리셀을 구성하는 3가지 중요 단계에 적용되는데, 이는 각각 스택 증착(VECTOR® Q Strata™), 채널 식각(2300® Flex™ F Series), 텅스텐 워드라인 증착(ALTUS® Max ICEFill™)이다.

3D NAND 메모리 구조는 이제 다양한 종류의 적층막 생산으로 이동하고 있다. 수평면과 수직면의 공정 변동성은 중요 단계를 위해 최소화되어야 최종 생산 기기에 장착된 각 메모리셀이 균등한 성능을 발휘할 수 있다. 그렇지 않으면 한 단계의 변동성이 이후 여러 단계에서 증폭되어 오류를 발생시키고, 이는 기기의 성능 저하와 낮은 수율로 연결된다. 40개 이상의 막이 적층되기 때문에 미세한 공정 변동도 중요하게 작용한다. 당사의 신제품들은 이처럼 엄격한 제어 요구사항에 적용된다.

새로운 VECTOR Q Strata PECVD(플라스마 강화 화학증기증착기술) 시스템은 다층막 스택의 증착에 사용된다. 3D NAND 공정에서 중요한 이 단계를 위해 당사의 시스템은 옥사이드·질화물(ONON)구조와 옥사이드·폴리실리콘(OPOP)구조의 스택 증착이 가능하다.

 

오류 발생 방지를 위한 울트라스무드 패턴의 균일막 증착을 위해 당사 시스템의 맞춤형 챔버는 현저히 낮은 결함율과 웨이퍼 휨, 우수한 박막 응력을 제공한다. VECTOR Q Strata는 또한 업계를 선도하는 생산성으로 현존 최고의 공장 단위면적당 처리량을 보여준다. 스택에 적층되는 막의 개수가 점점 증가하면서, 비용 절감을 위한 생산성 향상은 중요한 화두로 떠오르고 있다.

 

다층막 스택의 증착이 완료되면 당사의 2300 Flex F Series 유전체 식각 제품은 스택 내에 수직채널 구조를 만든다. 당사의 새로운 시스템은 왜곡과 측면 손상을 최소화하면서 높은 종횡비 구조로 측각한다. 또한 웨이퍼 전체에 걸쳐 식각 프로파일 균일성을 엄격하게 통제한다. 이 능력은 미세한 편차만으로도 각 셀간의 채널 디멘션이 달라져 기기의 성능에 편차가 발생한다는 점에서 중요한 의미를 지닌다. 특허 등록된 당사의 에너지 모듈레이션 기술로 발생되는 고이온 에너지가 이러한 성능을 가능하게 만든다.

업계를 선도하는 당사 텅스텐 증착 제품군의 최신 제품인 ALTUS Max ICEFill 시스템은 기하학적으로 복잡한 3D NAND 워드라인에 보이드(void)가 생성되지 않는 필링(filling)을 통해 변동성을 제어한다. 당사의 새로운 시스템은 특허 등록된 당사의 필링 기술을 통해 앞뒤로 원자층증착(ALD) 공정을 거쳐 텅스텐 워드라인을 생성한다. ICEFill 공정은 보이드 생성 없이 수직(수평) 라인을 필링하며, 동시에 수직채널 영역의 증착을 최소화한다. 이러한 결과로 전기적 성능과 수율이 향상된다.

램리서치 Rick Gottscho 글로벌 상품 담당 전무는 “당사는 공동 연구를 통해 보다 빠르고 효과적으로 고객 대응능력을 혁신하고 있다”면서 “고객사와 연구 분야 협력사의 지원과 전문 기술을 바탕으로 당사의 신제품 3종(VECTOR Q Strata, 2300 Flex F Series, ALTUS Max ICEFill)은 3D NAND 메모리 기기 개발 및 생산에 중요한 역할을 담당하고 있다”고 밝혔다.

 

미래예측 진술에 관한 주의 사항

 

이 보도자료에 나오는 내용은 역사적 사실이 아니라 미래 예측적인 내용을 담고 있고, 민사증권 소송개혁법(Private Securities Litigation Reform Act of 1995)의 세이프 하버 규정 규정에 따른 것이다. 램리서치 제품의 성능 즉, 고객사의 제어 요구사항 대응, 성능품질, 사용자가 가동으로 얻을 수 있는 처리량, 왜곡과 손상 없는 식각, 웨이퍼 전체에 걸친 식각 프로파일 균일성, 보이드 없는 라인 필링, 또한 보다 빠르고 효과적인 혁신, 고객사가 원하는 성능 구현, 고객사 제조 라인에 사용되는 당사 제품의 중요도 등은 이러한 미래 예측적인 내용과 관련이 있으며, 여기에만 한정되어 있지 않는다. 미래 예측적인 내용은 현재의 신뢰와 기대에 근거하고 있으며, 위험과 불확실성, 조건이나 의미, 가치와 효과에 대한 변화가 있을 수 있다. 이는 램리서치가 제공하는 양식 10-K의 연례보고서에 “위험 요소”라는 제목으로 발표한 내용뿐만 아니라 미 증권거래소에 제출하는 여러 문서에도 포함되어 있다. 이러한 위험, 불확실성과 조건 및 의미, 가치, 효과의 변화는 여기에 진술된 내용과 실제 결과가 다를 수 있으며, 예상치 못한 결과를 나을 수도 있다. 독자들은 이러한 미래 예측 진술에 과도하게 의존하지 않도록 주의되며, 이 미래 예측 진술은 지정된 날짜 시점이며, 보도자료 작성시 램리서치가 갖고 있던 합당한 정보에 따른 것이다. 램리서치는 미래 예측 진술에 대해 기대하거나 혹은 기대하지 않은 일의 발생 등 보도자료 발표 이후 일어난 일이나 상황을 반영하거나 재검토할 어떠한 의무를 지지 않는다.

 

램리서치 소개


램리서치(Lam Research Corp)는 반도체 업계에 혁신적인 웨이퍼 제조 장비 및 서비스를 제공하는 세계적으로 신뢰받는 기업이다. 램리서치의 시장 선도적인 증착, 식각, 스트립, 웨이퍼 클리닝 솔루션은 고객사들이 모래알의 1/1000 크기의 제품을 만드는 등 더 작고, 더 빠르며, 전력 효율성이 높은 반도체를 제조해 시장에서 성공을 거둘 수 있도록 돕는다. 협력과 끊임없는 혁신, 헌신적 노력을 통해 램리서치는 원자규모의 기술력을 지닌 회사로 발돋움하고 있으며 고객사들이 미래기술을 준비할 수 있도록 하고 있다. 미국 캘리포니아 프리몬트(Fremont)에 본사를 두고 있는 램리서치는 S&P 500® 기업이며, NASDAQ Global Select Market에서 LRCX의 이름으로 거래되고 있다. 자세한 정보는 http://www.lamresearch.com에서 확인할 수 있다.

 

출처: 램리서치

 

고장메커니즘과 고장형태 - 전자부품의 고장형태(2)

Posted by 도깨비강종헌
2014. 7. 8. 12:17 전자부품상식

 

 반도체의 신뢰성 중요문제 Top 10

 

 

1) 게이트 산화막 절연 신뢰성 (Gate oxide dielectric reliability)

2) 전기적이동(Electromigration)

3) 정전기 방전 (ESD)

4) Multi level metal/dielectric integrity

5) 핫캐리어 (Hot carrier)

6) 결함(Defectivity),청정도(cleanliness)

7) 웨이퍼 차징(Wafer charging), 안테나 효과(Antenna effect), 초박막 산화막(Ultra thin oxide)

8) 노이즈 마진 / 커플링 (Noise margin/coupling)

9) 래치업(Latch-up)

10) 누설 절연 (Leakage isolation)

 

 부품 크기 관련 신뢰성 문제

 

1) 산화막 파괴 (Oxide breakdown)

2) 전기적이동 (Electromigration)

3) 핫캐리어(Hot carrier)

4) 드레인 파괴 (Drain breakdown)

5) 정전기 방전 (ESD)

 

 

* 출처 : Thomas, R., “A analysis of the quality and reliability supplement to the SIA roadmap,”  Microelectronic Reliability, Vol. 38, pp. 861-868, 1998


 

 정전기 방전(ESD)과 전기적 오버스트레스(EOS)

 

시장 불량의 50%, 시험 불량 중 90% 이상을 점유


1) ESD = Electrostatic Discharge (정전기 방전)고전압 또는 고온에 의한 파괴. 온도에 의한 경우에는 방전 차폐가 된 경우에도 발생할 수 있음. ESD는 대개 EOS와 연관되어 발생한다.


2) EOS = Electrical Overstress (전기적 오버 스트레스)높은 전자장은 실리콘 재질 부위의 온도를 용융점 이상으로 올 수 있음


3) ESD와 EOS는 단순 고장이 아닌 심각한 고장을 초래한다.예) 단선, 회로 단락, 특정 금속 부위 용융

 

 반도체 IC의 주요 잠재고장 형태

 

EOS 및 ESD  불량이 제품 사용 중 50 % 이상이  발생함.(시장 불량률)

 

ESD 불량은 EOS 불량의  일부분으로 불량 현상과 메커니즘만을 가지고 명확히 구분하기는 어려움

 

 

 

* 출처 : T. Green, “ A review of eos/esd field failure in military equipment”, Proc. 10 th EOS/ESD symposium, p 7-14, 1998

 

 

전자부품(electronic parts) 기초교육 영상

Posted by 도깨비강종헌
2014. 7. 5. 10:45 전자부품상식

전자부품 기초교육 영상

 

많은 요인들이 인쇄보드에 있는 전자소자의 고장을 일으킨다.

 

어떤경우는 소자 자체가 결함이기도 하다.

 

부적합한 솔더 연결도 흔하다.

 

하지만 대부분은 소자에 대한 잘못된 판단이 고장의 원인이다.

 

 

 

전자부품(electronic parts) 기초교육 영상을 통하여 전자부품에 대하여 알아 보세요.

 

 

모노커뮤니케이션즈, 업계 최초 ‘DB암호화 솔루션 애슬론V1.5 Lite’ 무료 배표

Posted by 도깨비강종헌
2014. 7. 4. 12:54 전자부품정보

모노커뮤니케이션즈, 업계 최초 ‘DB암호화 솔루션 애슬론V1.5 Lite’ 무료 배표


- “성능 자신, 개인정보보호법 조치 완료 기업 확산 기대”

 

 

(주)모노커뮤니케이션즈는 고성능 DB암호화 솔루션 ‘애슬론’의 기능을 그대로 체험할 수 있는 ‘애슬론V1.5 Lite’ 라이선스를 6월부터 무료로 배포하고 있다고 밝혔다.

‘애슬론V1.5 Lite’는 오라클, MySQL, MS-SQL 데이터베이스관리시스템 및 8코어 기반 이하 시스템에서 적용이 가능하며 무료 배포의 대상 제한은 없다.

‘애슬론V1.5 Lite’의 무료 라이선스 유효 기간은 6개월이며 이후 계속 사용을 원할 경우 임대계약 형식의 실비로 사용할 수 있다. 무료 배포는 애슬론 네이버 카페(http://cafe.naver.com/EchelonLite)에서 이뤄진다.

 

‘애슬론V1.5 Lite’는 정식 솔루션인 ‘애슬론V1.5 Enterprise’와 달리 보안 컨설팅, 설치, 정기점검 및 유지보수 등의 제반 서비스를 제공받지 못한다. 대신 설치부터 관리까지 운용과 관련한 내용을 애슬론 네이버카페에서 문의 및 상담 받을 수 있다.

 

이형수 (주)모노커뮤니케이션즈 대표이사는 “개인정보보호법의 실효 적용에 따라 개인정보를 보유한 기업의 DB암호화 솔루션의 구축이 반드시 필요함에도 경제적 부담 또는 다양한 DB암호화 솔루션의 성능 검증을 위해 도입을 미루고 있는 경우가 많다”며 “이번 무료 배포는 솔루션의 성능을 자신하지 못한다면 시도하기 힘든 것으로, 개인정보보호의 기본인 DB암호화의 대중화와 빠른 적용의 계기가 되길 기대한다”고 밝혔다.

 

문의 : 02-333-7223

 

모노리서치 소개


모노리서치는 2003년에 설립된 ARS 전화설문조사기관이다. 국내 최대 8,000회선의 대용량 ARS 발송시스템과 가장 신뢰성 있는 전국 인명전화번호부를 이용하여 개발된 실시간 ARS 전화설문조사 시스템을 구축하고 누구나 손쉽게 설문작성에서부터 설문발송, 통계분석까지 할 수 있는 ARS 여론조사 원스톱서비스를 제공하고 있다. 정치/사회 전반적인 분야에 대해 정기적으로 기획조사를 실시하고 있으며 해당 결과를 온라인상이나 기사를 통해 무상으로 배포하고 있다.

 

출처: 모노리서치

 

세이코 인스트루먼츠, 125℃서 작동 가능하고 입력 전압 36V인 차량용 전압 감지기 신제품 출시

Posted by 도깨비강종헌
2014. 7. 1. 16:21 전자부품정보

세이코 인스트루먼츠, 125℃서 작동 가능하고 입력 전압 36V인 차량용 전압 감지기 신제품 출시


- S-19110 시리즈, 12V 납축전지의 전압을 직접 탐지하여 ECU의 소비 전류 감소

 

세이코 인스트루먼츠(Seiko Instruments Inc., SII)는 125℃에서 작동이 가능하고 입력 전압이 36V이며, 12V 납축전지 전압을 직접 탐지할 수 있는 차량용 전압 감지기인 ‘S-19110 시리즈’ 신제품을 출시했다. 이 시리즈의 대표적인 적용 제품은 엔진의 전자제어 장치(ECU), 변속기, 서스펜션, 앤티-록 브레이크 장치(Anti-lock Brake Systems, ABS), 관련 전기자동차 장비, 하이브리드 전기자동차, 플러그인 하이브리드 전기자동차용 전자장치 등이다.

 

차량의 ECU 전원장치에는 12V의 납축전지가 사용되는데 이 전원장치는 납축전지의 전압 변동으로 인해 발생하는 ECU의 오작동을 방지하기 위해 감시해야 한다. 다른 감지기들은 12V 납축전지의 전압을 감지하려면 일반적으로 외부의 저항 분압기가 필요한데 반해 ‘S-19110시리즈’ 신제품은 36V 입력 및 최대 45V까지의 고(高)내전압 특성이 있어서 12V 납축전지의 전압을 직접 감지할 수 있다. 또 ‘S-19110시리즈’는 외부 분압기의 소비전류를 약100uA에서 2uA로 낮출 수 있다(그림 1). 뿐만 아니라 ‘S-19110시리즈’는 다른 일반적인 전압 감지기와 달리 그라운드 핀이 전원장치 핀에서 멀리 떨어져 있기 때문에 인접 핀 사이의 합선 가능성을 배제한다(그림 2).

 

‘S-19110시리즈’는 차량용으로 요구되는 고품질 요건을 충족시킬 수 있도록 개발된 것으로, AEC-Q100인증을 받을 예정이다. ‘S-19110시리즈’는 작동 온도 범위가 -40~125℃로 넓고, 소비전류가 600nA이며 3.0V~10.0V 범위의 전압을 0.05V 단위로 외부 부품 없이 자체적으로 설정하여 감지할 수 있다. 전압 감지 방식은 VDD감지와 SENSE감지 방식 등 두 가지이다. SENSE감지 방식에는 VDD핀에 더하여 SENSE핀이 있어서 SENSE핀의 전압이 0V로 떨어져도 안정적인 출력을 낼 수 있게 한다. ‘S-19110시리즈’는 납성분과 할로겐이 없는 SOT-23-6 패키지로 판매된다.

 

더 상세한 정보는 http://datasheet.sii-ic.com/en/voltage_detector/S19110xxxA_E.pdfhttp://datasheet.sii-ic.com/en/voltage_detector/S19110xxxH_E.pdf 에서 볼 수 있다.

영문 정보는 http://www.sii-ic.com/en/, 중국어 간체 정보는http://www.sii-ic.com/cn/ 에서 볼 수 있다.

 

세이코 인스트루먼츠(Seiko Instruments Inc., SII) 소개

 

http://www.sii.co.jp/en/

 

 

2014년 1분기도 게임이 우리 콘텐츠산업 견인

Posted by 도깨비강종헌
2014. 6. 30. 13:34 전자부품정보

2014년 1분기도 게임이 우리 콘텐츠산업 견인

 

 

올해 1분기 우리나라 콘텐츠산업의 매출과 수출도 게임이 견인한 것으로 나타났다.

 

문화체육관광부(장관 유진룡)와 한국콘텐츠진흥원(KOCCA·원장 홍상표)이 30일 발간한 <2014년 1분기 콘텐츠산업 동향분석보고서>에 따르면, 올해 1분기 게임산업의 매출액은 지난해 같은 기간에 비해 23% 늘어난 2조 9,008억 3,800만 원이다. 같은 기간 수출액도 전년 동기대비 10.6% 증가한 8,506억 8백만 원으로 조사 대상 콘텐츠산업 수출의 60% 이상을 차지했다.

2014년 1분기 우리나라 콘텐츠 산업 전체 매출액은 지난해 동기대비 1.4조 원 증가한 23.2조 원으로 조사되었고, 수출액은 1,000억 원 증가한 1.4조 원으로 조사되어 전년 같은 기간에 비해 각각 6.4%, 8.0%씩 증가했다.

 

2013년 1분기 조사결과 전년 동기대비(2012년 1분기) 콘텐츠 매출액은 5.6%, 수출액은 10.7% 증가한 것에 비춰볼 때, 2014년 1분기 역시 건실한 매출, 수출 성장세를 유지한 것으로 나타났다.

 

1분기 매출부문을 견인한 분야는 게임(23.0%), 방송영상독립제작사(19.0%) 영화(15.1%), 콘텐츠솔루션(11.1%) 등으로 전년 동기대비 10% 이상 성장률을 기록했다. 전년 동기대비 1분기 수출액은 콘텐츠솔루션(18.8%), 음악(14.7%), 게임(10.6%)이 10% 이상 증가했다.

2014년 1분기 콘텐츠 상장사 매출액은 5조 4,035억 원으로 전년 동기대비 3,903억 원(7.8%) 증가, 영업이익은 6,309억 원으로 전년 동기대비 663억 원(11.7%) 증가했다. 수출액 역시 3,739억 원으로 전년 동기대비 286억 원(8.3%) 증가하는 등 전반적인 호조세를 보였다.

콘텐츠 상장사들은 출판과 게임을 제외하고 2014년 1분기 매출이 전년동기대비 모두 증가하였으며, 특히 음악(28.3%), 지식정보(17.7%), 애니메이션/캐릭터(15.1%) 등이 전년 동기대비 두 자리 수 이상의 성장을 기록했다.

 

한편 <2014년 1분기 콘텐츠산업 동향분석보고서>는 2014년 1분기 콘텐츠산업 매출과 수출 등 주요 산업통계를 잠정 집계하고, 콘텐츠업체의 생산·소비·매출·수출·고용·투자·상장사 재무구조 변화추이를 종합적으로 분석한 보고서다. 콘텐츠 상장사 86개 및 비상장사 600개에 대해 분기별 실태조사를 실시, 자료를 분석했으며 통계청, 한국은행 등에서 제공하는 거시통계 데이터를 참고했다.

 

본 보고서는 문화체육관광부 홈페이지(www.mcst.go.kr) 및 한국콘텐츠진흥원 홈페이지(www.kocca.kr)에서 찾아 볼 수 있고 PDF 파일로 내려받을 수도 있다.

 

출처: 한국콘텐츠진흥원

 

Fairchild Semiconductor Announces Conference Call for Second Quarter 2014

Posted by 도깨비강종헌
2014. 6. 29. 16:19 전자부품정보

Fairchild Semiconductor Announces Conference Call for Second Quarter 2014

 

Fairchild Semiconductor (Nasdaq:FCS), a leading global supplier of power semiconductors, will hold its second quarter financial results conference call on Thursday, July 17th at 9:00 a.m. ET. The company will release its second quarter 2014 results that day before the market opens.

Listeners can access the conference call by dialing 888-206-4913 (domestic), or 913-981-5551 (international). The conference ID is 2683531. The call is expected to last approximately one hour. A web replay will be available from noon ET, July 17th, until midnight ET, August 15th. The web replay is available on Fairchild's investor relations website at www.fairchildsemi.com.

Non-GAAP financial measures may be presented during the conference call. Reconciliations of those non-GAAP measures to comparable GAAP measures will be available at the time of the call at the investor relations section of Fairchild Semiconductor's website.

About Fairchild Semiconductor:

Fairchild has a rich history as a pioneer in the semiconductor industry and that pioneering spirit endures today. In an era where diversity can dilute focus and hamper innovation, we specialize in the development and manufacturing of a complete portfolio of low- to high-power solutions for the mobile, industrial, cloud, automotive, lighting, and computing industries. Fairchild is one of the most reliable partners in the industry, offering the shortest time from concept to silicon, expert FAEs for customer support, and a flexible, multi-source supply chain. Our vision is clear - anticipate the power efficiencies demanded by tomorrow's electronic products and deliver an amazing design experience.

Delivering this vision is Fairchild's way of making the world a cleaner and a better place. We accomplish this via a deeply human-centric approach: engage our employees, and strive to delight all our customers with great products at a fair price. If you use a smart phone, drive a car, own a modern appliance, or enjoy film animation you have experienced the power of Fairchild. Fairchild is unique in its deployment of design thinking in conceiving and delivering these advanced products. Our foundation is our guiding principles, which recognizes the inseparability of engaged employees and delighted customers, and encourages our employees to simplify, challenge, explore, play, excel, respect, go fast, and be direct. Please contact us on the web at www.fairchildsemi.com.

 

News Source: Fairchild Semiconductor

 

고장메커니즘과 고장형태 - 전자부품의 고장형태

Posted by 도깨비강종헌
2014. 6. 28. 09:53 전자부품상식

고장메커니즘과 고장형태 - 전자부품의 고장형태

 

전자부품에서의 고장모드, 고장부위, 고장메커니즘

 

 ※ 주요 고장모드 : 단락(누설 전류), 단선, 간헐고장 (특성변화,노이즈),오작동(동작 불능) 등


 ※ 주요 고장부위 : 벌크(Bulk), 경계면(Interface), 산화물(Oxide),금속층(Metallization), 패키지(Package) 등


 

고장모드

고장부위

고장매커니즘

회로 단락 (Short)

패턴(Pattern)

이온이동(Ion Migration)

회로 단선 (Open)

반도체 Ball Bond

박리 (Delamination)

특성 변화 (Parametric Shift)

반도체 Al Metallization

접촉부식(Galvanic Corrosion)

파단 (Fracture)

나사 (Screw)

수소취성(Hydrogen Embrittlement)

균열 (Crack)

납연결부(Solder Joint)

피로 (Fatigue)

 

시스템 부하 측면의 고장 메커니즘 분류

 

우발고장 메커니즘

 

기계

탄성변형, 파단(Fracture),항복(Yield), 좌굴(Buckling),계면

분리(Interfacial de-adhesion)

열적 오버 스트레스,부분 용융,유리전이온도(Tg)

전기

절연 파괴, 전기적 오버 스트레스, 정전기

화학

Ionic contamination

방사 (Radiation)

SEU(Single event upset) , 래치업(Latch-up)

 

마모고장 메커니즘

 

기계

피로, 마모, 크리프(Creep)

확산(Diffusion),Intermetallic Growth,

수소취성(Hydrogen Embrittlement)

전기

Electromigration, TDDB(Time Dependent Dielectric Breakdown), Hot electrons, CFF, Slow trapping

화학

부식, Dendrite Growth, Depolymerization, Scission, Kirkendal voiding

방사 (Radiation)

Radiation hardening, Charge trapping in oxides

 

반도체 IC 구조